logo
Dobra cena  w Internecie

szczegółowe informacje o produktach

Created with Pixso. Dom Created with Pixso. produkty Created with Pixso.
Płytka z węglika krzemu
Created with Pixso.

8-calowe płytki SiC Epitaxial Wydajność i wydajność Skalowalna elektrownia

8-calowe płytki SiC Epitaxial Wydajność i wydajność Skalowalna elektrownia

Nazwa marki: ZMSH
Numer modelu: 4 cale
MOQ: 10
Cena £: 5 USD
Szczegóły opakowania: niestandardowe kartony
Warunki płatności: T/T
Szczegółowe informacje
Miejsce pochodzenia:
Chiny
Orzecznictwo:
by case
Klasa:
Zero MPD Grade, klasa produkcyjna, ocena badań, klasa fikcyjna
Rezystywność 4H-N:
0,015 ~ 0,028 Ω • cm
Rezystywność 4/6H-SI:
≥1E7 Ω · cm
Mieszkanie podstawowe:
{10-10} ± 5,0 ° lub okrągły kształt
TTV/Łuk/Osnowa:
≤10 μm /≤10 μm /≤15 μm
Węglowodany:
Polski RA ≤1 nm / cmp RA ≤ 0,5 nm
Możliwość Supply:
przez przypadek
Podkreślić:

Płytki SiC epitaksyalne

,

8-calowa płytka SiC

Opis produktu

Przegląd płytek epitaksjalnych SiC

8-calowe (200 mm) płytki epitaksjalne SiC stają się obecnie najbardziej zaawansowaną formą w branży SiC. Reprezentując czołówkę nauki o materiałach i możliwości produkcyjnych, 8” płytki epitaksjalne SiC oferują niezrównane możliwości zwiększenia produkcji urządzeń mocy przy jednoczesnym obniżeniu kosztu na urządzenie.

Wraz ze wzrostem popytu na pojazdy elektryczne, energię odnawialną i przemysłową elektronikę mocy na całym świecie, płytki 8” umożliwiają nową generację tranzystorów MOSFET SiC, diod i zintegrowanych modułów mocy o wyższej przepustowości, lepszej wydajności i niższych kosztach produkcji.

Dzięki szerokiemu pasmu wzbronionemu, wysokiej przewodności cieplnej i wyjątkowemu napięciu przebicia, płytki 8” SiC otwierają nowe poziomy wydajności i efektywności w zaawansowanej elektronice mocy.

 

8-calowe płytki SiC Epitaxial Wydajność i wydajność Skalowalna elektrownia 08-calowe płytki SiC Epitaxial Wydajność i wydajność Skalowalna elektrownia 1

 


 

Jak powstają 8” płytki epitaksjalne SiC

 

Produkcja 8” płytek epitaksjalnych SiC wymaga reaktorów CVD nowej generacji, precyzyjnej kontroli wzrostu kryształów i technologii podłoży ultra-płaskich:

  1. Produkcja podłoży
    Monokrystaliczne podłoża 8” SiC są produkowane za pomocą technik sublimacji w wysokiej temperaturze, a następnie polerowane do chropowatości sub-nanometrowej.

  2. Wzrost epitaksjalny CVD
    Zaawansowane, wielkoskalowe narzędzia CVD działają w temperaturze ~1600 °C, aby osadzać wysokiej jakości warstwy epitaksjalne SiC na podłożach 8”, ze zoptymalizowanym przepływem gazu i jednorodnością temperatury, aby obsłużyć większą powierzchnię.

  3. Dostosowane domieszkowanie
    Profile domieszkowania typu N lub typu P są tworzone z wysoką jednorodnością na całej płytce o średnicy 300 mm.

  4. Precyzyjna metrologia
    Kontrola jednorodności, monitorowanie defektów kryształów i zarządzanie procesem in-situ zapewniają spójność od środka do krawędzi płytki.

  5. Kompleksowe zapewnienie jakości
    Każda płytka jest walidowana za pomocą:

    • AFM, Raman i XRD

    • Mapowanie defektów całej płytki

    • Analiza chropowatości powierzchni i wypaczeń

    • Pomiary właściwości elektrycznych


Specyfikacje

  Klasa   8InchN-typeSiCSubstrate
1 Polimorfizm -- 4HSiC
2 Typ przewodnictwa -- N
3 Średnica mm 200.00±0.5mm
4 Grubość um 700±50µm
5 Oś orientacji powierzchni kryształu stopień 4.0°w kierunku±0.5°
6 Głębokość wcięcia mm 1~1.25mm
7 Orientacja wcięcia stopień ±5°
8 Rezystywność (średnia) Ωcm NA
9 TTV um NA
10 LTV um NA
11 Wypaczenie um NA
12 Wypaczenie um NA
13 MPD cm-2 NA
14 TSD cm-2 NA
15 BPD cm-2 NA
16 TED cm-2 NA
17 EPD cm-2 NA
18 Obce polimorfizmy -- NA
19 SF(BSF)(rozmiar siatki 2x2mm) % NA
20 TUA(TotalUsableArea)(rozmiar siatki 2x2mm) % NA
21 Nominalne wykluczenie krawędzi mm NA
22 Rysy wizualne -- NA
23 Długość skumulowana rys (powierzchnia Si) mm NA
24 Powierzchnia Si -- Polerowana CMP
25 Powierzchnia C -- Polerowana CMP
26 Chropowatość powierzchni (powierzchnia Si) nm NA
27 Chropowatość powierzchni (powierzchnia C) nm NA
28 Oznakowanie laserowe -- Powierzchnia C, powyżej wcięcia
29 Ubytek krawędzi (powierzchnie przednia i tylna) -- NA
30 Płytki sześciokątne -- NA
31 Pęknięcia -- NA
32 Cząstki (≥0.3um) -- NA
33 Zanieczyszczenie powierzchni (plamy) -- Brak: Obie powierzchnie
34 Zanieczyszczenie metalami resztkowymi (ICP-MS) atom/cm2 NA
35 Profil krawędzi -- Faza, kształt R
36 Pakowanie -- Kaseta wielopłytkowa lub pojemnik na pojedynczą płytkę

 

 


Zastosowania

8” płytki epitaksjalne SiC umożliwiają masową produkcję niezawodnych urządzeń mocy w sektorach takich jak:

  • Pojazdy elektryczne (EV)
    Przetwornice trakcyjne, ładowarki pokładowe i przetwornice DC/DC.

  • Energia odnawialna
    Inwertery łańcuchowe słoneczne, przetwornice energii wiatrowej.

  • Napędy przemysłowe
    Wydajne napędy silnikowe, systemy serwo.

  • Infrastruktura 5G / RF
    Wzmacniacze mocy i przełączniki RF.

  • Elektronika użytkowa
    Kompaktowe, wysoko wydajne zasilacze.


Często zadawane pytania (FAQ)

1. Jaka jest korzyść z płytek 8” SiC?
Znacząco obniżają koszty produkcji na układ dzięki zwiększonej powierzchni płytki i wydajności procesu.

2. Jak dojrzała jest produkcja 8” SiC?
8” wchodzi w produkcję pilotażową z wybranymi liderami branży — nasze płytki są dostępne już teraz do badań i rozwoju oraz zwiększania wolumenu.

3. Czy domieszkowanie i grubość mogą być dostosowane?
Tak, pełna personalizacja profilu domieszkowania i grubości epitaksji jest dostępna.

4. Czy istniejące fabryki są kompatybilne z płytkami 8” SiC?
Do pełnej kompatybilności z 8” potrzebne są drobne ulepszenia sprzętu.

5. Jaki jest typowy czas realizacji zamówienia?
6–10 tygodni dla zamówień początkowych; krótszy dla powtarzających się wolumenów.

6. Które branże najszybciej zaadoptują 8” SiC?
Sektory motoryzacyjny, energii odnawialnej i infrastruktury sieciowej.

 


 

Produkty powiązane

 

 

8-calowe płytki SiC Epitaxial Wydajność i wydajność Skalowalna elektrownia 2

12-calowa płytka SiC 300 mm Płytka węglika krzemu Przewodząca klasa Dummy Typ N Klasa badawcza

8-calowe płytki SiC Epitaxial Wydajność i wydajność Skalowalna elektrownia 3

 

4H/6H Płytka SiC typu P 4 cale 6 cali Klasa Z Klasa P Klasa D Oś odchylona 2.0°-4.0° w kierunku domieszkowania typu P