logo
Dobra cena  w Internecie

szczegółowe informacje o produktach

Created with Pixso. Dom Created with Pixso. produkty Created with Pixso.
Płytka z węglika krzemu
Created with Pixso.

SiC Dummy Wafer (EPI) CVD Proces SiC epitaksy i systemy MOCVD

SiC Dummy Wafer (EPI) CVD Proces SiC epitaksy i systemy MOCVD

Nazwa marki: ZMSH
MOQ: 1
Cena £: by case
Szczegóły opakowania: niestandardowe kartony
Warunki płatności: T/T
Szczegółowe informacje
Miejsce pochodzenia:
Chiny
Stopień:
Zero MPD Grade, klasa produkcyjna, ocena badań, klasa fikcyjna
Rezystywność 4H-N:
0,015 ~ 0,028 Ω • cm
Rezystywność 4/6H-SI:
≥1E7 Ω · cm
Mieszkanie podstawowe:
{10-10} ± 5,0 ° lub okrągły kształt
TTV/Łuk/Osnowa:
≤10 μm /≤10 μm /≤15 μm
Chropowatość:
Polski RA ≤1 nm / cmp RA ≤ 0,5 nm
Możliwość Supply:
Według przypadku
Podkreślić:

Wykorzystanie płytek fałszywych SiC do procesu CVD

,

EPI SiC wafer do systemów MOCVD

,

Epitaxy wafer z węglowodanów krzemowych

Opis produktu

Przegląd płytek epitaksjalnych SiC

Płytki epitaksjalne SiC stają się obecnie najbardziej zaawansowanym rozwiązaniem w branży SiC. Reprezentujące najnowocześniejsze możliwości w zakresie materiałoznawstwa i produkcji, 8-calowe płytki epitaksjalne SiC oferują niezrównane możliwości zwiększania skali produkcji urządzeń zasilających przy jednoczesnym obniżeniu kosztu urządzenia.

 

Ponieważ popyt na pojazdy elektryczne, energię odnawialną i energoelektronikę przemysłową stale rośnie na całym świecie, płytki umożliwiają nową generację tranzystorów MOSFET, diod i zintegrowanych modułów mocy SiC o wyższej przepustowości, lepszej wydajności i niższych kosztach produkcji.

Dzięki szerokim właściwościom pasma wzbronionego, wysokiej przewodności cieplnej i wyjątkowemu napięciu przebicia, płytki SiC otwierają nowy poziom wydajności i efektywności w zaawansowanej elektronice mocy.

 

SiC Dummy Wafer (EPI) CVD Proces SiC epitaksy i systemy MOCVD 0SiC Dummy Wafer (EPI) CVD Proces SiC epitaksy i systemy MOCVD 1

 


 

Jak powstają płytki epitaksjalne SiC

 

Produkcja płytek epitaksjalnych SiC wymaga reaktorów CVD nowej generacji, precyzyjnej kontroli wzrostu kryształów i technologii ultrapłaskiego podłoża:

  1. Wykonanie podłoża
    Monokrystaliczne podłoża SiC są wytwarzane technikami sublimacji w wysokiej temperaturze, a następnie polerowane do chropowatości poniżej nanometra.

  2. Wzrost epitaksjalny CVD
    Zaawansowane, wielkoskalowe narzędzia CVD działają w temperaturze ~1600°C i osadzają wysokiej jakości warstwy epitaksjalne SiC na 8-calowych podłożach, przy zoptymalizowanym przepływie gazu i równomierności temperatury w celu obsługi większego obszaru.

  3. Doping na miarę
    Profile domieszkowe typu N lub P są tworzone z dużą jednorodnością na całej płytce o średnicy 300 mm.

  4. Metrologia Precyzyjna
    Kontrola jednorodności, monitorowanie defektów kryształów i zarządzanie procesami na miejscu zapewniają spójność od środka płytki do krawędzi.

  5. Kompleksowe zapewnienie jakości
    Każdy wafel jest weryfikowany poprzez:

    • AFM, Ramana i XRD

    • Mapowanie defektów pełnych płytek

    • Analiza chropowatości i wypaczeń powierzchni

    • Pomiary właściwości elektrycznych


Dane techniczne

  Stopień   8-calowe podłoże SiCSubstrat typu N
1 Polityp -- 4HSiC
2 Typ przewodności -- N
3 Średnica mm 200,00 ± 0,5 mm
4 Grubość hm 700±50µm
5 Oś orientacji powierzchni kryształu stopień 4,0° w kierunku ± 0,5°
6 Głębokość wycięcia mm 1 ~ 1,25 mm
7 Orientacja wycięcia stopień ±5°
8 Rezystywność (średnia) Ωcm NA
9 TTV hm NA
10 LTV hm NA
11 Ukłon hm NA
12 Osnowa hm NA
13 MPD cm-2 NA
14 TSD cm-2 NA
15 BPD cm-2 NA
16 PRZETRZĄSAĆ cm-2 NA
17 EPD cm-2 NA
18 Zagraniczne politypy -- NA
19 SF(BSF)(rozmiar siatki 2x2mm) % NA
20 TUA (całkowita powierzchnia użytkowa) (rozmiar siatki 2x2 mm) % NA
21 Wykluczenie nominalnej krawędzi mm NA
22 Rysy wizualne -- NA
23 Zadrapania – skumulowana długość (SiSurface) mm NA
24 SiFace -- CMP polerowane
25 CFace -- CMP polerowane
26 Chropowatość powierzchni (Siface) nm NA
27 Chropowatość powierzchni (Cface) nm NA
28 znakowanie laserowe -- CPowyżej wycięcia
29 Edgechip (przód i tył) -- NA
30 Płyty sześciokątne -- NA
31 Spękanie -- NA
32 Cząstka (≥0,3um) -- NA
33 Zanieczyszczenie obszaru (plamy) -- Brak: Obie twarze
34 Zanieczyszczenie resztkowe metalami (ICP-MS) atom/cm2 NA
35 Profil krawędzi -- Faza, kształt R
36 Opakowanie -- Kaseta z wieloma waflami lub pojedynczy pojemnik na wafle

 

 


Aplikacje

 Płytki epitaksjalne SiC umożliwiają masową produkcję niezawodnych urządzeń zasilających w sektorach m.in.:

  • Pojazdy elektryczne (EV)
    Falowniki trakcyjne, ładowarki pokładowe i przetwornice DC/DC.

  • Energia Odnawialna
    Falowniki fotowoltaiczne, konwertery energii wiatrowej.

  • Napędy przemysłowe
    Wydajne napędy silnikowe, systemy serwo.

  • Infrastruktura 5G/RF
    Wzmacniacze mocy i przełączniki RF.

  • Elektronika użytkowa
    Kompaktowe zasilacze o wysokiej wydajności.


Często zadawane pytania (FAQ)

1. Jakie są zalety 8-calowych płytek SiC?
Znacząco zmniejszają koszt produkcji na chip dzięki zwiększonej powierzchni płytki i wydajności procesu.

 

2. Jak dojrzała jest produkcja 8-calowego SiC?
8” wchodzi do produkcji pilotażowej u wybranych liderów branży — nasze płytki są już dostępne do celów badawczo-rozwojowych i zwiększania wolumenu.

 

3. Czy można dostosować domieszkę i grubość?
Tak, dostępna jest pełna personalizacja profilu domieszkowania i grubości epi.

 

4. Czy istniejące fabryki są kompatybilne z 8-calowymi płytkami SiC?
Aby uzyskać pełną kompatybilność z ekranem 8”, potrzebne są drobne aktualizacje sprzętu.

 

5. Jaki jest typowy czas realizacji?
6–10 tygodni w przypadku zamówień początkowych; krótsze dla powtarzających się tomów.

 

6. Jakie branże najszybciej wdrożą 8-calowy SiC?
Sektor motoryzacyjny, energia odnawialna i infrastruktura sieciowa.

 


 

Powiązane produkty

 

 

SiC Dummy Wafer (EPI) CVD Proces SiC epitaksy i systemy MOCVD 2

12-calowy wafel SiC 300 mm wafel z węglika krzemu Przewodzący manekin klasy N, klasa badawcza

SiC Dummy Wafer (EPI) CVD Proces SiC epitaksy i systemy MOCVD 3

 

4H/6H Wafel Sic typu P 4 cale 6 cali Klasa Z Klasa P Klasa D Klasa poza osią 2,0°–4,0° w kierunku domieszkowania typu P